Торгова марка: NANBEI
Модель: AFM
Атомно-силовий мікроскоп (АСМ), аналітичний інструмент, який можна використовувати для дослідження структури поверхні твердих матеріалів, включаючи ізолятори.Він вивчає структуру поверхні та властивості речовини, виявляючи надзвичайно слабку міжатомну взаємодію між поверхнею досліджуваного зразка та елементом, чутливим до мікросил.