• head_banner_015

Атомно-силовий мікроскоп

Атомно-силовий мікроскоп

  • atomic force afm microscope

    атомно-силовий афм мікроскоп

    Торгова марка: NANBEI

    Модель: AFM

    Атомно-силовий мікроскоп (АСМ), аналітичний інструмент, який можна використовувати для дослідження структури поверхні твердих матеріалів, включаючи ізолятори.Він вивчає структуру поверхні та властивості речовини, виявляючи надзвичайно слабку міжатомну взаємодію між поверхнею досліджуваного зразка та елементом, чутливим до мікросил.